X射線安檢設(shè)備是如何“透視”的？

人類一直追求的”透視”超能力，X射線的發(fā)現(xiàn)和應(yīng)用讓“透視”成為了現(xiàn)代檢測手段之一。

X射線與不同物質(zhì)發(fā)生相互作用，主要有光電效應(yīng)，瑞利散射，康普頓效應(yīng)和電子對效應(yīng)。射線遇到物體后，或透過、或被吸收、或被散射。通過檢測這些不同的信號就能判斷物體的形態(tài)和成分。

早期的安檢設(shè)備是采用單個X射線發(fā)射源，圖像處理也比較單一，還是黑白影像。早期安檢設(shè)備的最大缺點，是由于Ｘ射線的衰減與被測物質(zhì)的密度、厚度和平均原子序數(shù)都有關(guān)系，當(dāng)多重因素疊加影響時就很難判斷了。

而現(xiàn)在的安檢設(shè)備已經(jīng)采用多個發(fā)射源進行多視角的立體成像，而且圖像處理也能彩色顯示。這主要是由于雙能系統(tǒng)的不斷開發(fā)升級。

雙能系統(tǒng)一般由一個連續(xù)能譜的Ｘ射線源及一套能夠分別接收高低能數(shù)據(jù)的探測器系統(tǒng)組成。在雙能系統(tǒng)中，高能和低能在同一種物質(zhì)中的衰減程度是不一樣的，通過對高能和低能不同衰減系數(shù)的運算和比較，就可將不同種類、不同厚度的物質(zhì)有效地區(qū)分開來。再配合上后期圖像信號處理，就能很明顯反映出物體的成分和結(jié)構(gòu)。